粉尘中游离二氧化硅含量，每年测定1次。
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发布时间：2025-06-12 16:22:42
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答案：[错误]
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- 1.粉尘中游离二氧化硅含量，每年测定1次。
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- 7.当滤膜上采集的粉尘量大于0.1mg时,焦磷酸法、红外分光光度法和X线衍射法均适用于样品中游离二氧化硅含量测定。 ( )
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- 9.游离二氧化硅类型分
- 10.作业场所空气中粉尘中游离SiO
